可靠性试验-老化试验
2008-03-05 20:42:57
admin
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老化试验
1. 主题内容与适应范围
1.1 本标准规定了晶体老化试验的试验方法及判定规则。
1.2 本标准适用于本企业晶体的可靠性试验；如客户有特殊要求，相应试验标准按客户要求进行试验及判定。
2. 试验项目与判定标准
2.1 老化试验（非破坏性）：
频率：（FLa-FLb）在±5ppm范围内；电阻：（Rsa-Rsb）/Rsb在±15%范围内
2.2 老化试验箱图片
2.3 抽样与试验方法
老化试验：从合格的产品中按高、中、低频各抽样1种频率，数量各为20PCS，先对试验晶体编号，然后放在温度控制在85°±5°的老化箱里老化，经老化到24小时时，取出在25°±3°的温度下冷却2小时后，测试晶体频率并记录，然后放入烘箱进行继续老化，最后测试的一次在第30天结束并在25℃±3℃的环境下冷却1～2小时后进行，计算老化前后的频率变化情况，应全符合上述2.1的规定。
