可靠性试验-低温试验
2008-03-05 20:47:19
admin
164011
低温试验
1. 主题内容与适应范围
1.1 本标准规定了晶体低温试验的试验方法及判定规则。
1.2 本标准适用于本企业晶体的可靠性试验；如客户有特殊要求，相应试验标准按客户要求进行试验及判定。
2. 试验项目与判定标准
2.1 低温试验（非破坏性）：
A、频率：（FLa-FLb）在±5ppm范围内；
B、电阻：（Rsa-Rsb）/Rsb在±15%范围内；
2.2低温试验箱图片
2.3 抽样与试验方法
低温试验：从合格的晶体中按高、中、低频各抽样1种频率，数量为20PCS，先对试验晶体编号，测试其晶体频率及电阻；然后放入恒温箱中温度-40℃±3℃，时间500小时；低温结束后在25℃±3℃的环境下进行1～2小时恢复，再测试其频率及电阻值；计算试验前后的频率及电阻变化情况，应全符合上述2.1的规定。
