可靠性试验-高低温冲击试验
2008-03-05 18:00:07
admin
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高低温冲击试验
1. 主题内容与适应范围
1.1 本标准规定了晶体高低温冲击试验的试验方法及判定规则。
1.2 本标准适用于本企业晶体的高低温冲击试验；如客户有特殊要求，相应试验标准按客户要求进行试验及判定。
2. 试验项目与判定标准
2.1 高低温冲击试验（非破坏性）：
A、频率：（FLa-FLb）在±5ppm范围内；
B、电阻：（Rsa-Rsb）/Rsb在15%范围内；
2.2高低温冲击试验设备图片
2.3 抽样与试验方法
高低温冲击试验：从合格的晶体中按不同型号晶体各抽样1种频率，数量为20PCS,晶体编号并测试其频率及电阻值 ,放入高低温冲击箱低温保持在-40℃±3℃,高温100℃±3℃且晶体在每个极限温度保持15min;晶体元件应按以上要求承受完整100次温度循环,然后在25℃±3℃的环境下进行1～2小时恢复，再测试其频率及电阻值；计算试验前后的频率及电阻变化情况，应全符合上述2.1的规定。
