可靠性试验-高低温测试试验
2008-03-05 19:00:32
admin
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高低温测试试验
1. 主题内容与适应范围
1.1 本标准规定了晶体高低温测试试验的试验方法及判定规则。
1.2 本标准适用于本企业晶体的高低温测试试验；如客户有特殊要求，相应试验标准按客户要求进行试验及判定。
2. 试验项目与判定标准
2.1 高低温测试试验（非破坏性）：
A、频率：变化量在±20ppm范围内；
B、电阻：不超过常规电阻要求；
2.2 高低温测试试验设备图片
2.3 抽样与试验方法
高低温测试试验：从常温合格的晶体中按高、中、低频晶体各抽样1个频率，数量为50PCS,放入温测机中按-20℃~70℃每5℃为一个点进行测试，其参数,应全符合上述2.1的规定。
