新闻动态

  • 可靠性试验-低温试验

    低温试验 1. 主题内容与适应范围1.1 本标准规定了晶体低温试验的试验方法及判定规则。1.2 本标准适用于本企业晶体的可靠性试验;如客户有特殊要求,相应试验标准按客户要求进行试验及判定。2. 试验项目与判定标准2.1 低温试验(非破坏性):A、频率:(FLa-FLb)在±5ppm范围内;B、电阻:(Rsa-Rsb)/Rsb在±15%范围内;2.2低温试验箱图片2.3 抽样与试验方法低温试验:从合

    2008-03-05 admin 164011

  • 可靠性试验-可焊性试验

    可焊性试验 1. 主题内容与适应范围1.1 本标准规定了晶体可焊性试验的试验方法及判定规则。进行试验及判定。1.2 本标准适用于本企业晶体的可靠性试验;如客户有特殊要求,相应试验标准按客户要求2. 试验项目与判定标准2.1 引脚可焊性试验(破坏性): 目视表面光亮,无针孔聚集,沾锡面积大于90%。2.2 焊锡试验台图片2.3 抽样与试验方法引脚可焊性试验:从合格的晶体中按不同引线型号各抽样1

    2008-03-05 admin 175218

  • 可靠性试验-高温测试

    高温试验 1. 主题内容与适应范围1.1 本标准规定了晶体高温试验的试验方法及判定规则。1.2 本标准适用于本企业晶体的可靠性试验;如客户有特殊要求,相应试验标准按客户要求进行试验及判定。2. 试验项目与判定标准2.1 高温试验(非破坏性):A、频率:(FLa-FLb)在±5ppm范围内;B、电阻:(Rsa-Rsb)/Rsb在±15%范围内;2.2 高温试验箱图片2.3 抽样与试验方法高温试验:从

    2008-03-05 admin 160150

  • 可靠性试验-老化试验

    老化试验 1. 主题内容与适应范围1.1 本标准规定了晶体老化试验的试验方法及判定规则。1.2 本标准适用于本企业晶体的可靠性试验;如客户有特殊要求,相应试验标准按客户要求进行试验及判定。2. 试验项目与判定标准2.1 老化试验(非破坏性):频率:(FLa-FLb)在±5ppm范围内;电阻:(Rsa-Rsb)/Rsb在±15%范围内2.2 老化试验箱图片2.3 抽样与试验方法老化试验:从合格的产品

    2008-03-05 admin 145456

  • 可靠性试验-耐焊接热试验

    耐焊接热试验 1. 主题内容与适应范围1.1 本标准规定了晶体耐焊接热试验的试验方法及判定规则。1.2 本标准适用于本企业晶体的可靠性试验;如客户有特殊要求,相应试验标准按客户要求进行试验及判定。2. 试验项目与判定标准2.1 耐焊接热试验(破坏性):A、频率:(FLa-FLb)在±5ppm范围内;B、电阻:(Rsa-Rsb)/Rsb在±15%范围内;2.2 耐焊接热试验台图片2.3抽样与试验方法

    2008-03-05 admin 145042

  • 可靠性试验-跌落测试

    跌落试验 1. 主题内容与适应范围1.1 本标准规定了晶体跌落试验的试验方法及判定规则。1.2 本标准适用于本企业晶体的可靠性试验;如客户有特殊要求,相应试验标准按客户要求进行试验及判定。2. 试验项目与判定标准2.1 跌落试验(破坏性): A、频率:(FLa-FLb)在±5ppm范围内;B、电阻:(Rsa-Rsb)/Rsb在±15%范围内;2.2 跌落试验台图片 2.

    2008-03-05 admin 145219

  • 可靠性试验-回流焊试验

    回流焊试验 1. 主题内容与适应范围1.1 本标准规定了晶体回流焊试验的试验方法及判定规则。1.2 本标准适用于本企业晶体的回流焊试验;如客户有特殊要求,相应试验标准按客户要求进行试验及判定。2. 试验项目与判定标准2.1 回流焊试验(非破坏性):A、频率:变化量在±10ppm范围内;B、电阻:(Rsa-Rsb)/Rsb在±20%范围内C、回流焊后晶体应无烧焦、变形、氧化、参数失效情况。2.2 回

    2008-03-05 admin 174570

  • 可靠性试验-高低温测试试验

    高低温测试试验 1. 主题内容与适应范围1.1 本标准规定了晶体高低温测试试验的试验方法及判定规则。1.2 本标准适用于本企业晶体的高低温测试试验;如客户有特殊要求,相应试验标准按客户要求进行试验及判定。2. 试验项目与判定标准2.1 高低温测试试验(非破坏性):A、频率:变化量在±20ppm范围内;B、电阻:不超过常规电阻要求;2.2 高低温测试试验设备图片2.3 抽样与试验方法高低温测试试验:

    2008-03-05 admin 156219

上一页12下一页 转至第
首页
产品
新闻
地址